Thiết bị XRF được ví như là "trái tim" của việc kiểm soát quy trình sản xuất trong mọi nhà máy luyện kim,ếtbịphátxạhuỳnhquangtiaXtrongthửnghiệmvàty so uc sản xuất kim loại quý, chế tác vàng trang sức, mỹ nghệ hay các nhà máy xi măng hiện đại, vì kỹ thuật XRF có thể cung cấp các dữ liệu về thành phần hóa học của vật liệu nhanh chóng và chính xác để phục vụ cho việc kiểm soát hầu hết các công đoạn sản xuất.

Ngày 26/9/2013, Bộ Khoa học và Công nghệ đã ban hành Thông tư 22/2013/TT-BKHCN quy định về quản lý đo lường trong kinh doanh vàng và quản lý chất lượng vàng trang sức, mỹ nghệ lưu thông trên thị trường, có hiệu lực từ ngày 1/6/2014. Thông tư này được xem là công cụ quan trọng để kiểm soát chất lượng, hạn chế gian lận tuổi vàng. Theo thông tư, phương pháp chủ yếu để xác định hàm lượng vàng trong vàng trang sức, mỹ nghệ là phương pháp thử nghiệm không phá hủy mẫu (xác định thành phần trên bề mặt mẫu) bằng thiết bị XRF  và phương pháp phá hủy mẫu sử dụng phương pháp phân tích quang phổ phát xạ quang học plasma cảm ứng (ICP-OES).

Thử nghiệm vàng trên thiết bị phát xạ huỳnh quang tia X (ED-XRF) tại Trung tâm Kỹ thuật 3

Để đáp ứng yêu cầu về thử nghiệm xác định hàm lượng vàng (tuổi vàng), từ đầu năm 2014 Trung tâm Kỹ thuật 3 (www.quatest3.com.vn) đã đưa vào sử dụng thiết bị chuyên dụng theo phương pháp phát xạ huỳnh quang tia X (XRF – Fischerscope X-ray XDV-SDD), =do Cộng hòa Liên bang Đức sản xuất với các tính năng vượt trội như:

- Có khả năng phân tích chính xác hàm lượng vàng từ 0% đến 99,9% và hàm lượng một số kim loại khác trên bề mặt các mẫu vàng thương phẩm không xi mạ với độ lặp lại rất tốt.

- Đo được bề dày lớp mạ và thành phần lớp mạ, thành phần hóa học của các vật liệu cấu tạo từ nhôm Al (13) đến uranium U (92) trong bảng hệ thống tuần hoàn các nguyên tố hóa học.

- Ống chuẩn trực có thể thay đổi ở 4 kích thước Ø 0,2 mm; Ø 0,6 mm; Ø 1 mm và Ø 3 mm cho phép đo được mẫu có kích thước bề mặt rất nhỏ hoặc những vị trí nhỏ như mối hàn trong sản phẩm trang sức.

- Camera màu có độ phân giải cao có thể quan sát được hình ảnh quang học của mẫu dọc theo trục của chùm tia chính, cho phép phân tích ở bất kỳ vị trí nào của mẫu.

Ưu điểm chính của việc sử dụng thiết bị phát xạ huỳnh quang tia X này là khả phân tích không phá hủy mẫu, có khả năng xác định hàm lượng vàng trên bề mặt mẫu thử có diện tích nhỏ (thích hợp với các mẫu vàng trang sức, mỹ nghệ) với độ chính xác cao, đáp ứng phù hợp yêu cầu của Thông tư 22/2013/TT-BKHCN và cho kết quả phân tích trong thời gian ngắn, khoảng 15 – 20 phút/mẫu.

Một số hình ảnh mẫu vàng trang sức đã kiểm tra thử nghiệm tại Trung tâm Kỹ thuật 3

Hoàng Huy – Bửu Quốc

(责任编辑：Nhà cái uy tín)